雷射電性破壞
編號:#00028
晶圓經過前段的電性測試後,會區分電性的分級,如果有些晶粒的電性測試介良品的下限,就使用雷射將該晶粒的電性直接破壞,避免混雜在良品之中,而破壞孔的點徑小適用於不要標記的地方‧
[2018-10-25.155804]     [2018-10-25.160638]     [2018-10-25.161826]    
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